X射線測厚儀是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器，利用X射線穿透被測材料時，X射線強度的變化與材料厚度相關(guān)的特性來測定材料厚度。它廣泛應(yīng)用于測量薄膜涂層的厚度，尤其是在金屬和非金屬材料的涂層厚度測量中。

　　測厚儀在測量過程中不會損壞被測材料，且操作快速、高效，適用于多種不同材料的涂層厚度測量。

　　X射線測厚儀，則強調(diào)了其作為一種非接觸式動態(tài)計量儀器的特點，適用于生產(chǎn)鋁板、銅板、鋼板等冶金材料的企業(yè)，可以與軋機配套使用，應(yīng)用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋等多種生產(chǎn)過程。

　　總的來說，X射線測厚儀在測量薄膜涂層厚度方面具有高精度、快速測量和不會損壞被測材料等優(yōu)點，適用于多種工業(yè)應(yīng)用場景。